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奥林巴斯olympus 奥林巴斯 USPM-RU-W显微镜
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公司介绍
实的测定功能使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定。
测定反射率测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。
反射率测定光路图反射率测定例:镜片反射率测定例:镜片周边部位膜厚测定的图例测定膜厚活用反射率数据,测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
物体色的测定图例测定物体颜色根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。
测定透过率 (选配)从受台下部透过?2mm的平行光,测定平面样品的透过率。
透过率测定光路图测定入射角为45度的反射率(选配)从侧面向45度面反射?2mm的平行光,测定其反射率。
45度反射率测定光路图域的高精度高速测定光学系图实现高速测定使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定,从而实现高速测定。
反射率测定图例十分适用于测定细小部件、镜片的反射率新设计了可以在?17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面,也可以实现再现性很高的测定。
消除背面反射光的原理测定反射率时,不需要背面防反射处理将专用物镜与环形照明组合,不需要进行被检测物背面的防反射处理,就可测定最薄0.2mm的反射率*... [详细介绍]
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